Produktempfehlung | Dräifach Wellelängt Achromatesch F-Theta Lëns
Standard Laserscan-Lënsen sinn typescherweis fir eng eenzeg Wellelängt entwéckelt - e Wiessel op en anere Laser féiert zu enger Brennwäitverschiebung, verschwommenen Flecken a verschwommenen Markéierungen. Duebelband-Scan-Lënsen kënnen nëmmen chromatesch Aberratioun tëscht zwou Wellelängten korrigéieren.
D'3-Wellelängt Achromatesch Scanlens ass eng spezialiséiert Scanfokusséierungslens, déi gläichzäiteg chromatesch Aberratioun fir dräi verschidde Laserwellelängten eliminéiert. All dräi Wellelängten deelen deeselwechten opteschen Set; fir tëscht Prozesser ze wiesselen, muss einfach d'Laserquell gewiesselt ginn, ouni datt d'Lens ofmontéiert oder nei fokusséiert muss ginn. Dëst mécht se ideal fir Multiprozess-Kompositveraarbechtungssystemer.
Déi heefegst industriell Wellelängtekombinatioun: 355 nm (UV), 532 nm (gréng) an 1064 nm (IR).
Virdeeler vun der Core Optical Performance
1. Parfokal Dräi-Wellenlängt-Ausriichtung mat konsequenter Punktqualitéit
Simultan Korrektur vun der chromatescher Aberratioun fir 355/532/1064 nm (oder personaliséiert RGB, UV-VIS-SWIR Bandkombinatiounen). D'Brennebene vun allen dräi Wellelängte falen zesummen, wat eng konsequent Punktronnheet iwwer dat ganzt Scanfeld garantéiert, ouni axial Defokusséierung oder chromatesch Kantverzerrung.
2. Héich Präzisioun fir Kompositveraarbechtung mat minimalem Positionéierungsfehler
Nieft chromatescher Aberratioun ginn och Feldkrümmung, Verzerrung, sphäresch Aberratioun a Koma optimiséiert. Déi héich linear f-Theta-Scangenauegkeet erméiglecht d'Wellenlängteauswiel op Basis vun de spezifesche Ufuerderunge vum Werkstéck. D'Veraarbechtung vu Kompositdeeler mat verschiddene Wellelängten verbessert d'allgemeng Veraarbechtungspräzisioun däitlech.
3. Niddreg Feldkrümmung an exzellent Vollfeldpunktuniformitéit
Applikatiounsszenarien
343 nm fir d'Entfernung vun organesche Materialien wéi Photoresist; 515 nm fir d'Entfernung vu Metall oder Polysilizium aus Passivatiounsschichten; an 1030 nm fir d'Entfernung vun ITO aus Passivatiounsschichten. Ideal fir d'Reparatur an d'Inspektioun vu Paneldisplays.
Produktparameter：
| Wellelängt | 1030nm & 515nm & 343nm |
| Duerchmiesser vum Inputstrahl | 10mm |
| Effektiv Brennwäit (EFL) | 250mm |
| Fokuspunktgréisst | 46,94–46,97 μm @ 1030 nm 23,62–23,76 μm @ 515 nm 15,69–16,37 μm @ 343 nm |
| Scanfeld | 17×17mm |
| Aarbechtsdistanz (WD) | 224,5 mm |
| Gesamtlängt vun der Lëns | 46mm |
| Äusseren Duerchmiesser vun der Lëns | Φ82mm |
| Feldkrümmung | <0,1 mm |
| Verzerrung | <0,1% |
E personaliséierten Design ass no den aktuellen Ufuerderunge verfügbar.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 08. Juli 2026